产品介绍：

应用于CIS lmage芯片晶圆测试,利用半导体光刻制程制造之探针,于高密度阵列(High Density Needle Array)硅晶圆检测时,可保持杂讯低及电性稳定之特性。

特性：

借稳定微机电针尖(MEMS Tip)提升测试良率(Yield)

16Site,30Site,64Site矩阵阵列

重点规格